ASIC ¿ë¾î ¿ä¾à
´Ù¹ÝÅ×Å© °Á¤½Ä(http://www.chollian.net/~beer50cc) °úÀå´ÔÀÌ Ãµ¸®¾È µðÁöÅ» µ¿È£È¸¿¡ ¿Ã¸° ±ÛÀÔ´Ï´Ù... (2001.8.27)
- ASIC : Application Specific Integrated Circuit
ÁÖ¹®Çü¹ÝµµÃ¼. ½Ã½ºÅÛ ¾÷ü°¡ Àڱ⠽ýºÅÛÀÇ Æ¯Á¤È¸·Î ºÎºÐÀ» ÇϳªÀÇ ¹ÝµµÃ¼·Î ÁýÀû½ÃÄÑ °³¹ßÇÏ¿©, ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶ ¾÷ÀÚ¿¡°Ô ÁÖ¹® Á¦Á¶ÇÑ ¹ÝµµÃ¼. ¼ö¿ä ¾÷ü°¡ ÁÖ¹® Á¦Á¶ÇÑ Æ¯Á¤È¸·Î¿ëÀ¸·Î¸¸ »ç¿ëµÇ±â ¶§¹®¿¡ ±âÁ¸ÀÇ ¹ü¿ë ¹ÝµµÃ¼ (¹ÝµµÃ¼ ¾÷ü°¡ »ý»êÇϴ ǥÁØÈµÈ ¹ÝµµÃ¼: Standard IC)¿Í »ó´ëÀûÀÎ °³³äÀ¸·Î ƯÁ¤¿ëµµ IC (ASIC)¶ó ÅëĪÇÔ.
- ATVG : Automatic Test Vector Generation
ÀϹÝÀûÀ¸·Î °áÁ¡ Àû¿ë ¹üÀ§ (Fault Simulation)ÀÇ ·¹º§À» Áõ°¡½ÃÅ°°í, ±â´ÉÀ» °Ë»çÇϱâ À§ÇÑ Å×½ºÆ® ÆÐÅÏ (Test Pattern)µéÀ» Áõ°¡½ÃÅ°±â À§ÇØ ÀÌ¿ëµÈ´Ù.
- Back Annotation
·¹À̾ƿô (Layout)ÈÄ¿¡ R.C°ªÀ» ÃßÃâÇÏ´Â ÀÛ¾÷.
- Behavioral Description
¾Ë°í¸®Áò ¶Ç´Â ¼öÇÐÀûÀÎ ¹æÁ¤½ÄÀÇ Ç×À¸·ÎºÎÅÍ ¼ÒÀÚ ¶Ç´Â ±â´ÉÀ» ¸ðµ¨È ÇÏ´Â °Í.
- Bottom-up Design
°èÃþÀû ¼³°è¹æ¹ý (Hierarchical Design)À» ÀÌ¿ëÇÏ¿© Æ®·£Áö½ºÅͳª °ÔÀÌÆ® °°Àº ±âº»ÀûÀÎ ¼ÒÀڷκÎÅÍ ¼¿ (cell), ¸ðµâ (module)µî Áß°£·¹º§ÀÇ ±¸Á¶¸¦ ¸¸µé°í Á¤ÀÇÇÏ¿©, ³ôÀº ·¹º§ÀÇ ½Ã½ºÅÛ ±¸Á¶¸¦ ²Ù¸ç ³ª°¡´Â ¼³°è¹æ½Ä (Top-Down Design°ú »ó´ëÀû °³³ä)
- Cell
ƯÁ¤ÇÑ Àü±âÀû ±â´ÉÀ» ¼öÇàÇϱâ À§ÇØ ÀÌ¹Ì Á¤ÀÇµÈ È¸·Î ¼ÒÀÚÀÇ ·¹À̾ƿôÀ̳ª ÆÄÀÏ.
- Cell Library
Ư¼ºÀ» °¡Áø ¼¿µéÀÇ ¸ðÀÓÀ¸·Î ÀϹÝÀû ASIC º¥´õ(Vendor)ȸ»ç¿¡ ƯÁ¤µÈ´Ù.
- CIF : Caltech Intermediate Format
Ç¥ÁØÇü ±â°è°¡ ÀÐÀ» ¼ö ÀÖµµ·Ï ¸¶½ºÅ© ·¹º§ÀÎ µµÇüÀû ·¹À̾ƿôÀ» Ç¥ÇöÇϱâ À§ÇÑ Çü½Ä. ·¹À̾ƿôÀÇ Ç¥ÁØÀ¸·Î GDSIIµµ ÀÖ´Ù.
- Core
I/O Æе帵 (Pad Ring)À» Á¦¿ÜÇÑ ¿µ¿ª ¶Ç´Â ASICÀÇ ´Éµ¿ ¿µ¿ª.
- Critical Path
ȸ·Î¸Á¿¡¼ °¡Àå ±ä °æ·Î. ÀÓ°è °æ·Î Àü´Þ Áö¿¬Àº ¼ÒÀÚÀÇ ÃÖ´ë Ŭ·° ÁÖÆļö¸¦ Á¦ÇÑÇÑ´Ù.
- Design Rule
µµÇüÀû ·¹À̾ƿôÀ» ÀÌ·ç´Â ´Ù°¢Çüµé¿¡ ´ëÇÑ ÃÖ¼ÒÀÇ ³Êºñ¿Í °£°Ý¿¡ ´ëÇÑ ¿ä±¸ »çÇ×µéÀ» Á¤ÀÇÇÑ °Í. Å×Å©³î·¯Áöº°·Î Metal1, Metal2, PolyµîÀÇ °ªµéÀ» Á¤ÀÇ.
- DFT : Design For Testability
Å×½ºÆ® ¿ëÀÌÈ ¼³°è (DFT)´Â ȸ·Î ¼³°è´Ü°è½Ã, ³í¸®È¸·ÎÀÇ Å×½ºÆ®¸¦ ¼Õ½±°Ô ÇÒ Å×½ºÆ® ÆÐÅÏ »ý¼ºÀ» °í·ÁÇÏ¿© ¼³°èÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù.
- DIE
ĨÀ̶ó°íµµ ºÎ¸§. ´ÙÀ̴ ȸ·Î³ª ¼ÒÀÚÀÇ ¾î·¹À̸¦ Æ÷ÇÔÇÏ´Â ¿þÀÌÆÛ¸¦ ½ºÅ©¶óÀÌºê ¼± (Scribe Line)À» µû¶ó Àß¶ó¼ ¾òÀº ÇϳªÀÇ ÁýÀûµÈ ȸ·ÎÀÌ´Ù.
- DRC : Design Rule Checker
¼³°è ¾ÆÆ®¿öÅ©°¡ ¾î¶² ƯÁ¤ °øÁ¤¿¡¼ ¾Æ¹«·± ¹®Á¦¾øÀÌ Á¦ÀÛµÉ ¼ö Àִ°¡¸¦ °ËÅäÇϱâ À§ÇÏ¿©, ¿ÏÀüÇÑ ·¹À̾ƿôÀ» °ø°£ÀûÀÎ ¸é¿¡¼ °øÁ¤ ¼³°è ±ÔÄ¢¿¡ ¸Â´ÂÁö °ËÅäÇÏ´Â ÇÁ·Î±×·¥.
- EDA : Electronic Design Automatic
ÄÄÇ»Å͸¦ ÀÌ¿ëÇÑ È¸·Î ¼³°è ÀÚµ¿È ¿£Áö´Ï¾î¸µ Åøµé¿¡ »óÀÀÇÔ.
- EDIF : Electronic Data Interchange Format
¾î¶² ¼³°è Åø¿¡¼ ¸¸µé¾îÁø µ¥ÀÌÅ͸¦ ´Ù¸¥ ¼³°è Åø·Î Àü¼ÛÇϱâ À§ÇÑ Ç¥ÁØÈµÈ Áß°£ ¼½Ä.
- ERC : Electronic Rule Checker
°ú´ÙÇÑ ÆҾƿô, °³¹æ (Open), ´Ü¶ô (Short)°ú °°Àº Àü±â¹ýÄ¢ÀÇ À§¹Ýµé¿¡ ´ëÇÏ¿© ȸ·Î ·¹À̾ƿôÀ» °ËÅäÇÏ´Â ÇÁ·Î±×·¥.
- Fault
¾î¶² ȸ·ÎÀÇ °³¹æ¶Ç´Â ´Ü¶ôÀ¸·Î ÀÎÇÏ¿© ±â´ÉÀû °íÀåÀ» ÃÊ·¡ÇÏ´Â Á¦Á¶»óÀÇ °áÇÔ.
- Floating Node
¿¬°áµÇÁö ¾ÊÀºÃ¤ ³²°ÜÁø °ÔÀÌÆ®ÀÇ ÀÔ·Â ¶Ç´Â Ãâ·ÂÀ¸·Î, ³õ¾ÆµÎ¸é ±â´ÉÀû °íÀåÀ» À¯¹ßÇÏ°Ô µÈ´Ù. ºÎµ¿´ÜÀÚ´Â ´ë°³ ³í¸®ÀûÀ¸·Î High »óÅ·ΠºÎµ¿ÇÑ´Ù. ERC ÇÁ·Î±×·¥µéÀÌ ÀÌ·± ·¹À̾ƿô ¿¡·¯¸¦ °Ë»öÇϴµ¥, À̰͵éÀº °øÁ¤Áß¿¡ ºÒ¾ÈÀüÇÑ Á¢ÃË¿¡ ÀÇÇØ ¹ß»ýÇϱ⵵ ÇÑ´Ù.
- Floor Planning
ÃÖÀûÀÇ ·¹À̾ƿôÀ» ¾ò±â À§ÇÏ¿© Ĩ ·¹À̾ƿô ¿µ¿ª³»ÀÇ ±â´É ºí·°µéÀ» ¹èÄ¡ÇÏ°í, ±× ±â´Éºí·°µé »çÀ̸¦ ¿¬°áÇÏ¿© ÇÒ´çÇÏ´Â °úÁ¤.
- Foundry
ASIC ¼³°è ¾÷ü¿Í °í°´µéÀÌ ÀڽŵéÀÌ °®°íÀÖ´Â °øÁ¤¿¡ ÀûÇÕÇÑ ±â´É ºí·°µéÀ» »ç¿ë, ¿Ï¼ºµÈ ¼³°è¸¦ Á¦Á¶Çϱâ À§ÇÏ¿© ÀÌ¿ëÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶¼³ºñ
- Gate
µÎ°³ ÀÌ»óÀÇ ÀԷµé°ú ÇϳªÀÇ Ãâ·ÂÀ» °¡Áø ȸ·Î·Î, Ãâ·ÂÀº ÀÔ·Â ½ÅÈ£ÀÇ ³í¸®ÇÔ¼ö·Î Ç¥½ÃµÈ´Ù. ±âº»ÀûÀÎ ³í¸® °ÔÀÌÆ® ÇüÅ·δ AND, OR, NAND, NOR¿Í °°Àº ºÒ¸°ÇÔ¼ö (Boolean Function)µéÀÌ ÀÖ´Ù.
- GDSII
¸¶½ºÅ©¸¦ ¸¸µé±â À§ÇÑ ·¹À̾ƿôÀ» »ý¼º½ÃÅ°±â À§ÇÏ¿© »ç¿ëµÇ´Â ¼³°è µ¥ÀÌŸ Çü½ÄÀÇ Çϳª·Î ´Ù¸¥ Çü½ÄÀ¸·Î´Â CIF°¡ ÀÖ´Ù.
- Hierarchical Design
ÇϳªÀÇ ¸ðµâÀ» ¿©·¯ Á¾¼Ó ¸ðµâµé·Î ³ª´©¾î ¼³°èÇÏ´Â ¹æ½ÄÀ¸·Î ,ÇϳªÀÇ ³í¸®¸¦ ±¸Á¶ÀûÀ¸·Î Ç¥±âÇÏ´Â ¹æ¹ý. ¿¹¸¦ µé¸é ÇϳªÀÇ ¸¶ÀÌÅ©·ÎÇÁ·Î¼¼¼ ºí·°Àº °ÔÀÌÆ® ºí·°µé·Î ±¸¼ºµÈ Çø³ÇÃ·Ó ºí·°À» Æ÷ÇÔÇÏ°í, ÀÌ ºí·°µé·Î ±¸¼ºµÈ ÇϳªÀÇ ÇÁ·Î±×·¥ Ä«¿îÅÍ ºí·°À» Æ÷ÇÔÇÏ°í ÀÖ´Ù.
- Load
±¸µ¿ ¼ÒÀÚÀÇ Ãâ·Â¿¡ Á¸ÀçÇÏ´Â ÀúÇ×À̳ª Ä¿ÆнÃÅϽº.
- Macro Cell / Hard Macro
ÄÚ¾Æ ±â´ÉÀ̶ó°íµµ Çϴµ¥, ¸ÅÅ©·Î´Â º»·¡ Ç¥ÁØÇü Ä«Å»·Î±× ºÎÇ°À¸·Î Á¦°øµÇ´Â ¾î¶² ±â´ÉÀ» ¼öÇàÇÏ´Â º¹ÀâÇÑ ASIC ¼¿ÀÌ´Ù. ÇÏµå ¸ÅÅ©·Î·Î ºÒ¸®±âµµÇÑ´Ù. (·¹À̾ƿôÀÌ ¼³°è ±ÔÄ¢¿¡ ¸Â°Ô °íÁ¤µÇ¾î Àֱ⠶§¹®)
- Maintenance
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ȸ»çÀÇ Åø¿¡ ´ëÇØ ±â¼úÀû Áö¿ø, ¿À·ù Á¤Á¤ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °³¼±, ¼ºñ½º µîÀ» Á¦°ø¹Þ±â À§ÇØ, »ç¿ëÀÚ°¡ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ȸ»ç¿¡ ÁöºÒÇÏ´Â ºñ¿ë.
- MPW : Multi Project Wafer
¿©·¯ ´Ù¸¥ ¼³°èÀÚ¿¡ ÀÇÇØ ¼³°èµÈ ¿©·¯°³ÀÇ ´Ù¸¥ ÇÁ·ÎÁ§Æ®µéÀ» ÇÑ ¿þÀÌÆÛ»ó¿¡ Á¦Á¶ÇÔÀ¸·Î½á NREºñ¿ëÀ» ¿©·¯ ¼³°èÀڵ鿡°Ô ºÐ´ã½ÃÅ°´Â ¹æ¹ý.
- Netlist
ÀÓÀÇÀÇ ¼³°è ±¸¼º ¼¿µé°ú À̵éÀÇ ¿¬°á »óÅ¿¡ ´ëÇÑ Á¤º¸ ³ª¿.
- Net Comparison or Netcompare
½ºÅ°¸Þƽ ĸÃÄ¿¡¼ ¾ò¾îÁø ³×Æ®¸®½ºÆ®¿Í ·¹À̾ƿôÀÇ ³×Æ®¸®½ºÆ®°¡ °°Àº ±â´É°ú ¿¬°á¼ºÀ» °®´ÂÁö¸¦ ºñ±³ °ËÅäÇÏ´Â °Í.
- Node
ȸ·Î ¿ä¼Ò ¶Ç´Â ÇÑ È¸·Î¸ÁÀÇ ÀÓÀÇ °¡ÁöÀÇ ´ÜÀÚ.
- NRE : Non Recurring Engineering
ASIC ½ÃÁ¦Ç° Á¦ÀÛÀ» À§ÇÑ °³¹ß ³ë·Â ÇàÀ§¿Í ±×¿¡ ¿¬°üµÈ ºñ¿ë¿¡ °üÇÑ °Í.
- Pad
I/O ȸ·Î¸¦ ÆÐÅ°Áö ¶Ç´Â ±âÆÇ¿¡ ¿¬°áÇϱâ À§ÇØ »ç¿ëµÇ´Â Ĩ °¡ÀåÀÚ¸®¿¡ À§Ä¡ÇÑ ±Ý¼Ó ¿µ¿ª.
- P & R
·¹À̾ƿôÀÇ ¹èÄ¡¹× ¹è¼±
- PGA : Pin Grid Array
¾î¶² ±×¸®µå¿¡ ³ª¿µÈ ÆÐÅ°ÁöÀÇ ¸®µå (Lead)¸¦ ÆÐÅ°Áö ¸öü ¹ØÀÇ ¾Æ·¡¹æÇâÀ¸·Î ³ª¿À°Ô ÇÏ´Â Through Hole ÀåÂø ÆÐÅ°Áö ±â¼ú.
- Physical Design
Æ®·£Áö½ºÅÍ, ¼¿, ºí·°°ú ±×°ÍµéÀÇ ¹èÄ¡¿Í ¹è¼±À» Æ÷ÇÔÇÏ´Â ±âÇÏÇÐÀû ¿ä¼ÒµéÀÇ Ç×À¸·Î ÁýÀûȸ·Î ·¹À̾ƿôÀ» µµÇüÀûÀ¸·Î ±¸ÇöÇÏ´Â °Í.
- Placement
Ĩ ·¹À̾ƿô³»ÀÇ ¼¼ ¶Ç´Â ºí·°µéÀ» ¹°¸®ÀûÀ¸·Î À§Ä¡½ÃÅ°´Â °Í.
- Primitive
°ÔÀÌÆ®¿Í °°Àº ³·Àº ·¹º§ÀÇ ±â´É.
- Prototype
¾î¶² ƯÁ¤ÇÑ ÀÀ¿ë¿¡ ´ëÇØ Ã¹¹ø° ¼³°è ¶Ç´Â ù¹ø° µ¿ÀÛ ¸ðµ¨ÀÇ ÇüÅÂ. Á¤È®¼º°ú ±â´ÉÀ» Æò°¡Çϱâ À§ÇÑ ½ÃÁ¦Ç° ȤÀº ½ÃÀÛÇ°.
- Routing
¼¿µé »çÀÌÀÇ ¿¬°á Åë·Î.
- Scribe Line
ÀÎÁ¢ÇÑ ´ÙÀÌÀÇ À§Ä¡¸¦ ºÐ¸®½ÃÅ°´Â ¿þÀÌÆÛ»óÀÇ ¿µ¿ª. ½ºÅ©¶óÀÌºê ¿µ¿ª¼±Àº °¢°¢ÀÇ Ä¨À» »êÃâÇϱâ À§ÇØ ÁÙÃÄ Àְųª Àß·ÁÁö´Â¼±.
- Sea of Gate
¹è¼±¿ë ä³ÎÀ» µû·Î °¡ÁöÁö ¾ÊÀ¸¸ç Æ®·£Áö½ºÅÍ°¡ ¿¬¼ÓÀûÀ¸·Î ¹è¿µÈ °ÔÀÌÆ®¾î·¹ÀÌ ±¸Á¶ÀÇ ÇÑ ÇüÅÂ.
- Silicon Compiler
°í¼öÁØ ¼³°è Ç¥±â°¡ ÁÖ¾îÁ³À»¶§, µµÇüÀû ¼³°è¿Í ½Ã¹Ä·¹À̼ÇÀ» Æ÷ÇÔÇÏ´Â ¸ðµç ÇÊ¿äÇÑ ¼³°è °üÁ¡µéÀ» ÄÄÆÄÀÏÇϰųª Á¾ÇÕÇÏ´Â ¼³°è Åø.
- Simulation or Test Vector
ȸ·ÎÀÇ ÀԷ¿¡ Àû¿ëµÇ¾î ¿¬»êµÇ¾úÀ»¶§, µµÇüÀû ¼³°è¿Í ½Ã¹Ä·¹À̼ÇÀ» Æ÷ÇÔÇÏ´Â ¸ðµç ÇÊ¿äÇÑ ¼³°è °üÁ¡µéÀ» ÄÄÆÄÀÏÇϰųª Á¾ÇÕÇÏ´Â ¼³°è Åø.
- Standard Cell
°íÁ¤µÈ ¹°¸®Àû, Àü±âÀû Ư¼ºµé¿¡ ÀÇÇØ Æ¯Á¤Áö¾îÁö´Â °ÔÀÌÆ® ¶Ç´Â ·¡Ä¡¿À °°Àº ±âº»ÀûÀÎ ±â´ÉÀûÀÎ ¿ä¼Ò.
- Symbol
¼¿ÀÇ °æ°è ¹Ú½º¿Í I/O Æ÷Æ®¸¦ ±×¸²À¸·Î ³ªÅ¸³½ °Í.
- Synthesis
»óÅÂõÀ̱â°è, Áø¸®Ç¥, ¶Ç´Â ºÒ¸° ¹æÁ¤½ÄµîÀÇ °í¼öÁØ ¼³°è ¼¼úÀ» ƯÁ¤ÇÑ °ÔÀÌÆ® ·¹º§ ³í¸® ±¸ÇöÀ¸·Î º¯È¯ÇÏ´Â °Í.
- VHDL : VHSIC Hardware Description Language
¾ð¾îÀû »ç¾ç¿¡ µû¶ó ±â´ÉÀû µî°¡ ĨÀ» »ý»êÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ¸¹Àº ASICȸ»çµé¿¡ ÀÇÇØ ÀÌ»óÀûÀ¸·Î ¼±Á¤µÈ »ç¾çÀ» ¸¸µå´Âµ¥ »ç¿ëµÇ´Â ±â¼úµµ¸³ÀûÀΠǥÁØÇü ¼³°è Ç¥±â ¾ð¾î. (IEEE 1076)
- Yield
¿þÀÌÆÛ »óÀÇ ¿Ã¹Ù·Î µ¿ÀÛÇϴ Ĩ ¼ö¿Í Àüü Ĩ¼öÀÇ ºñÀ².
|